日本测补尘补产耻苍薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C
离线型厚度计是台式紧凑型厚度计。将薄膜或薄片切成条状并测量。主要特征是任何人都可以轻松,快速地进行测量,因为测量是在自动运输时执行的,并且不受测量者技能的影响。
它通常用于质量控制部门和研发应用程序。另外,由于测量图可以以环形显示,因此它们经常用于吹膜生产现场。
型号 | TOF-C2 * TOF-C的后续型号 |
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测量方式 | 非接触型/电容型 |
测量目标 | 薄膜,例如拉伸膜,粘性保护膜,容易粘附灰尘的膜 |
测量原理 | 电容式 |
产物特点
高测量分辨率
非常适合非接触型难以接触的薄膜
即使在粗糙的表面上也可以测量
基重测量
操作简便(具有自动介电常数设定功能)
日本测补尘补产耻苍薄膜台式离线电容式测厚仪TOF-C2 * TOF-C
产物规格
测量厚度 | 5至500μ尘 |
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测量长度 | 10-10000毫米 |
测量间距 | 1毫米? |
小显示值 | 0.01微米 |
电源电压 | AC100V 50/60赫兹 |
工作温度范围 | 5-40°颁(测量期间温度变化在1°颁以内) |
湿度 | 35-80%(无凝结) 产物特点
产物特点
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