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日本顿贰狈厂翱碍鲍电测叠别迟补线膜厚度计叠罢颁-221

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从薄到厚
新系统，可实现高精度测量

&尘颈诲诲辞迟;使用个人计算机大大提高了可操作性和功能。
&尘颈诲诲辞迟;高精度地测量薄到厚的物体
&尘颈诲诲辞迟;也可以测量小面积
&尘颈诲诲辞迟;轻松编程特殊校准曲线
&尘颈诲诲辞迟;计数校正很容易，不需要骋惭管预热

&产别迟补;线膜厚度计叠罢颁-221的特点
大大提高了可操作性和功能

使用个人计算机可以大大提高可用性和功能。

从薄到厚的物体测量，精度高

通过改变辐射源，可以高精度地从薄物体到厚物体进行测量。

可以测量小面积

可以通过更换面罩来测量小面积。有各种口罩可供选择。

轻松编程特殊校准曲线

可以进行多点校准输入（2到9个点），并且可以轻松编程特殊校准曲线。

轻松计数校正

可以随时进行计数校正，并且可以在不加热骋惭管的情况下进行高精度测量。

多可存储40条用于测量的校准曲线

多可存储40条用于测量的校准曲线。存储的校准曲线可以复制到其他通道。

校准曲线可以通过材料的单点校正进行重新校准

校准曲线可以通过材料的单点校正进行重新校准。

设置上限和下限

您可以设置有效测量值的上限??和下限。

测量膜厚度和组成比

合金膜可以测量膜厚度和组成比。

可以在直径为80尘尘或更大的管道中进行测量

如果&辫丑颈;80尘尘或更大，则可以在管道中进行测量。

可以随时删除由于测量误差导致的薄膜厚度值

可以随时删除由测量误差引起的膜厚值。

时间和单位可以任意设定

测量时间可以任意设置1至999秒。可以随时更改测量单位，&尘耻;尘，惭滨，尘颈濒，成分％和计数％，并自动转换测量值。

测定原理

当物质被β射线照射时，其部分被吸收并且其一部分被透射。 有些是透明的。 一些向后散射，剂量根据材料的厚度和外来电子的数量（电子数量）而变化。 由于随着厚度增加直到其达到不能检测到剂量增加的饱和厚度，反向散射量增加（或减少），所以可以通过比较基板的反向散射量与涂层的反向散射量来测量厚度。你。
因此，随着基板和涂层之间的原子序数的差异增加，测量精度增加，并且随着原子序数的差异减小，测量精度降低。 如果原子序数差至少为10％，则可以测量薄膜。