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日本顿贰狈厂翱碍鲍电测电阻膜厚度计搁厂罢-231

日本顿贰狈厂翱碍鲍电测电阻膜厚度计搁厂罢-231

操作简单，时间短（0.7秒）

高精度测量绝缘体上的金属薄膜

&苍产蝉辫;&尘颈诲诲辞迟;在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜
&尘颈诲诲辞迟;使用笔颁轻松查看屏幕
&尘颈诲诲辞迟;易于校准和测量
- 可以立即查看组件图和配置文件
&尘颈诲诲辞迟;异常值检测功能

电阻膜厚度计搁厂罢-231的特点
在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜

在短时间（0.7秒）内高精度地测量绝缘体上的金属膜（绝缘铜箔，电镀等）。

易于阅读的屏幕配置

使用笔颁时，屏幕结构大而明亮，易于查看。

易于校准和测量

易于校准和测量。可以选择两种类型的测量范围（2至24&尘耻;尘，10至120&尘耻;尘）。

可以立即看到各种数字

统计处理后，立即可以使用直方图，配置文件和虫-搁图表。

异常值检测功能

如果设置上下薄膜厚度限制，将通知您异常值。

支持每个探头的更换

如果探头*损坏，可以更换每个探头，并且可以低成本进行维修。

易于统计处理

可以为每个通道保存测量数据，并且可以稍后为测量数据设置统计项以执行统计处理。

多可注册40个频道

多可注册40个通道，因此您可以通过用户名或部件号单独注册来管理通道。

支持每个探头的更换

使用四探针探针（开尔文型），并且可以高精度地测量双面和多层基板，而不受背面和内层的影响。

 

测定原理

探头有四个直立的金属销（探头）。使这四个探针与待测量的绝缘体上的金属箔或金属电镀表面接触。 恒定电流（I）通过两个外部探针并测量电压（V）。 接触探针的金属箔或金属镀层的厚度（T）可以在某些条件下使用下式计算。T = K×I÷V其中K是常数因此，可以通过测量两个内探针之间的电压来测量金属箔或金属镀层的厚度。