在线膜厚透射光谱仪 BTR-1介绍
施加到薄膜上的薄膜的厚度是通过卤素光的光学干涉法测量的。 同时进行透光率测量,可自动管理膜厚数据,输出异常值的外部信号。
薄膜生产线的光谱检测系统,可以与控制面板和操作员操作部分的距离相距几十米,同时控制面积传感器和编码器,实现超越光谱测量概念的新型薄膜检测。
硅、氧化硅、氮化硅
砷化镓
二氧化钛
光刻 胶
染料膜、油膜和彩色滤膜
影片
涂料和粘合剂
紫外光固化树脂
金属氧化膜、介电膜
聚合体
空气层
光盘、中药、光盘
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