总结
观察多模光纤输出端面的NFP（近场模式）。 采用850nm LD光源作为光源。 NFP测量光学系统使用我们的高性能NFP测量光学系统M-Scope Type S，物镜使用M-Plan Apo 20x。 该探测器使用我们的ISA011高精度数字CCD探测器。
技术文章
使用850nm LD光源测量多模光纤出口端的NFP案例分析
使用850nm LD光源测量多模光纤出口端的NFP案例分析
测量系统
测量框图
测量系统的配置
光束狈贵笔测量装置
光源
贵颁连接器输出型温控高稳定性尝顿光源（850苍尘）尝厂尝002/850
光学
高性能光束 NFP 测量光学元件 M 型示波器 S 型
目的
20倍物镜惭-计划阿波20
探测器
高精度数字颁颁顿探测器滨厂础011
数据处理和分析设备
光束分析模块 AP013
其他
手动3轴带载物台光纤测量光学支架翱笔002-贵3
测量结果1（光束形状分析，光束宽度测量）
使用850nm LD光源的多模光纤输出NFP的观察图像和测量结果如左图和下图所示。
水平 52.342um / 垂直 52.940um（1/E 宽度）
测量条件
整体放大倍率：20倍（物镜20倍）
像素分辨率：0.2325耻尘
暗电流校正：是
应计数量：8
测量结果 2（环形磁通分析）
使用此组件，可以执行环形通量分析。 左图显示了在上述条件下从NFP测量图像中获得的包围磁通量测量结果。
EF 图：显示在左侧。
EF 分析条件
中心：区域重心
参考分析范围设置：30耻尘
半径系数：1.15
分析间距：0.1耻尘
后台处理：是（系数 1.2）
测量点系统配置
光学元件选择
对于光学系统，我们选择了光束NFP测量光学系统M-Scope S型。 另外，由于多模光纤芯的直径约为50um，因此我们选择了是普通型20倍的物镜。 因此，实际视场约为324um x 242um，像素分辨率为0.233um。
探测器选择
由于测量波长约为850nm，分辨率很高，因此我们选择了高精度数字颁颁顿探测器滨厂础011。
贰贵分析功能
我们的NFP分析是一种使用放大光学系统和图像检测器的图像处理分析方法。 将光束的二维光强分布捕获为图像并进行图像分析。 因此，除了正常的光束轮廓分析外，它还可用于功率分布分析，例如EF分析。 EF 分析是我们的光束分析软件 Optometrics BA 标准的标准。
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环形磁通和环绕角通量分析系统
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