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铝合金中有害重金属分析及检测设备介绍

检测下限

推荐设备

能量色散 X 射线荧光分析仪“OURSTEX 160"

元素技术的晶体/高灵敏度和高精度

能量色散 X 射线荧光分析仪用 X 射线管发出的初级 X 射线照射样品，并用半导体探测器测量产生的 X 射线荧光，因此无论样品形状如何，它都是非破坏性和元素定性的。样品。? 进行定量分析。
半导体探测器采用电子冷却硅漂移探测器（厂顿顿），无需液氮冷却，可结合数字计数电路（顿厂笔）测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能，准备了能够使半导体探测器的能量分辨率和计数灵敏度大化的激发光学系统的条件。

应用示例

• 同时分析碘化铯 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和铯 (Cs)

• 焚烧灰分析实例

• 水泥分析示例

• 在采石场现场分析泥沙、砾石和碎石的示例

• 铝合金中的镁测量示例（每种类型）

• 农药污染土壤分析

• 工业废弃物分析

• 土壤中有害重金属元素分析

• 油中的硫分析

• 新型固体燃料搁笔贵分析