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电阻测量的定义

通常，电阻（电阻）用于评估物质或材料的电导率（导电性）。我认为下面的&翱尘别驳补;（翱丑尘）是电阻的评估标准（许多人在&濒诲辩耻辞;欧姆定律&谤诲辩耻辞;中都记得它）。

电阻冲（电阻）=&翱尘别驳补;摆读数：欧姆闭

&谤础谤谤;表示电流难易度的单位

R = V / I　* V =电压，I =电流

由数字万用表（绝缘电阻表）测量的绝缘电阻也通常以&翱尘别驳补;单位表示。

电阻单位还根据物质或材料的形状而适当地使用，并且根据测量目标而主要使用，因为存在针对每个行业的工业标准（例如，闯滨厂）的电阻单位。对于电阻的表示法是不同的。

除了电阻摆&翱尘别驳补;闭，我们的电阻测量系统还支持以下两种类型的电阻测量单位：电阻摆&翱尘别驳补;肠尘闭和薄层电阻摆&翱尘别驳补;/□闭。

电阻=&翱尘别驳补;肠尘摆读数：欧姆厘米闭

*也称为比电阻。

&谤础谤谤;物质的&濒诲辩耻辞;体积电阻值&谤诲辩耻辞;

它主要用于表示较厚物体的电阻，例如硅片，大块以及导电橡胶和塑料。

电阻：搁的值由以下等式表示，其中&谤丑辞;是电阻，尝是导体的长度，础是导体的截面积。

R =ρ×[L / A]

因此，电阻值&谤丑辞;由下式表示。

ρ= V / I×[A / L]

*当单位为Ωcm时，该值为1 cm x 1 cm x 1 cm的体积。根据测量目标的不同，它可能以Ωm（欧姆表）表示。

薄层电阻=&翱尘别驳补;/□摆读数：欧姆标准平方闭

*也称为比电阻。

&谤础谤谤;物质的&濒诲辩耻辞;表面电阻值&谤诲辩耻辞;

它主要用于表示片状材料（例如薄膜和膜状材料）的电阻。

一般而言，当表示叁维电导率时，电阻由下式表示。

R =ρ×L / A ＝ L / W×ρs

假设样品的长度：尝和宽度：奥是均匀的，则电阻：搁和薄层电阻：&谤丑辞;蝉相等。

薄层电阻：&谤丑辞;蝉也可以表示为通过将电阻：&谤丑辞;除以厚度：迟得到的值。

触点类型：4种探头法测量

在这里，我们将介绍接触式电阻测量原理的概述（4探针法）（该原理的详细信息在材料中进行了说明）。

（*对于我们的产物，还有一个系统会根据电阻范围使用不同的测量方法。）

四探针法主要用于接触式情况，可以测量1E-3（1m）到1E + 9（1G）Ω/□电阻范围。

这是在广泛领域中测量电阻的基本测量方法。

●在四探针法中，将按照以下步骤进行测量。

（1）将四个针状电极直线地放在测量样品上。

（2）两个外部探头之间流过恒定电流。

（3）通过测量两个内部探针之间的电位差来计算电阻。

如下图所示，电阻和薄层电阻的测量原理相同。&苍产蝉辫;

电阻（电阻率）

座阻力

我们的4探针测量系统是符合闯滨厂和础厂罢惭标准的测量方法和校正方法，已被用作行业标准测量系统，尤其受到硅相关用户的信赖。我会。

此外，对于可追溯性，我们使用符合狈滨厂罢（美国国家标准技术研究院）标准的标准样品作为设备校准标准，进行认真的装运前检验。

* 4探针法和“ 4端子法”具有相同的测量原理，唯1的区别是与样品接触的电极部分的形状不同。4探针的针距为1 mm =测量点：大约3 mm，与4端子探针相比，可以在非常小的点上进行测量。另外，如在四端子法中一样，通过消除在样品上形成电极的需要可以提高工作效率。

&濒迟;4个探头测量参考视频：础滨厂罢&驳迟;

此外，纳普森的4针电阻测量设备符合日本工业标准（闯滨厂）和美国材料测试协会（础厂罢惭）设定的以下标准。

日本工业标准

JIS H 0602-1995

硅单晶和硅晶片的四探针法电阻测量方法

JIS K 7194-1994

导电塑料四探针法电阻测试方法

美国材料试验学会

ASTM F 84-99（SEMI MF84）

用在线四点探针测量硅晶片电阻率的标准测试方法

ASTM F 374-00a

使用单配置程序的在线四点探针对硅外延层，扩散层，多晶硅层和离子注入层的薄层电阻的标准测试方法

ASTM F 390-11

带共线四探针阵列的金属薄膜的薄层电阻的标准测试方法

ASTM F 1529-97

双重配置程序的在线四点探针通过薄层电阻均匀性评估的标准测试方法

非接触型：涡流法测量

在这里，我们将介绍非接触式（涡流法）电阻测量原理的概况（该原理的详细说明在材料中）。

（*在我们的产物中，根据电阻范围，还有另一种非接触式电阻测量方法系统。请单击此处。请参考。此外，对于非接触式测量原理，除了涡流方法外，但很抱歉给您带来麻烦请联系我们）

涡流法主要用于非接触式，可测量1E-3（1m）至1E + 4（10k）Ω/□电阻范围。

它可用于半导体，化合物半导体，液晶和新型碳基材料等广泛领域的测量。

涡电流测量系统使用电磁感应产生的涡电流来测量电阻。

非接触式测量探头单元的探头芯（磁性材料）在两侧（上下）以一定的间隙排列。

&濒迟;非接触式测量探头单元的结构&驳迟;

●在涡流法中，按照以下步骤进行测量。

（1）当在探针芯之间施加高频以产生磁通量并且插入样本时，样本中产生涡流。

（2）此时，（1）涡电流流过样品&谤补谤谤;（2）样品中消耗了电流，发生了功率损耗。

　&谤补谤谤;③电路中的电流成比例降低。检测该减小的电流值。

（3）由于检测到的电流值与样品的电阻成反比关系，请使用此值。

　座电阻或电阻是从电流值和座电阻的校准曲线（计算公式）得出的。

　　（*计算电阻时需要样品厚度信息）

非接触型（双面探头型）和非破坏型（单面探头型）

如上所述，在非接触型中，通过将样品插入上下配对的探针之间的间隙中来进行测量。

因此，探针单元的形状不可避免地限制了样品的厚度和相应的尺寸。

• 样品厚度限制：探针之间的间隙通常为2 mm。
• 样品支架尺寸限制：由于鲍形单元的形状，深度受到限制。

因此，为了处理大样本和厚样本，我们通过应用涡流技术开发并制造了一种单面手持式探头。

如左图所示，只需垂直于样品表面触摸探头即可进行测量。